米樂m6官網登錄入口:新能力 | 芯片電磁兼容測試能力
作者:米樂發布時間:2025-02-23
隨著汽車電動化、智能化、網聯化的快速發展,應用在車上的芯片種類及數量越來越多,尤其是近年來車規芯片的國產化替代,使芯片電磁兼容成了汽車電磁兼容領域的全新問題。同時,不斷增加的芯片算力需求,使芯片工作頻率越來越高、有限體積內集成的晶體管數也越來越多,也使得新車型設計時,不能再忽視芯片本身的電磁兼容問題。從可靠性角度,車規級芯片的電磁兼容要求遠高于民用芯片,客觀評價芯片電磁兼容性是否滿足車規要求,是系統及整車可靠性的根基。
為此,新能源檢驗中心電磁兼容部近年來緊跟芯片電磁兼容測試技術發展,深度參與各項集成電路電磁兼容測試標準的制修訂工作,現已建立起完善的芯片電磁兼容測試能力,覆蓋TEM和寬帶TEM小室法、IC帶狀線法、1Ω/150Ω直接耦合法及射頻功率直接注入法等多種發射及抗擾測試方法,以上測試能力已于2022年12月獲得中國合格評定國家認可委員會(CNAS)認可。
表1 測試能力一覽表米樂m6網址
1Ω阻抗探頭(傳導發射-騷擾電流測量)
150Ω耦合網絡(傳導發射-騷擾電壓測量)
DPI注入探頭(傳導抗擾度測試)
脈沖注入探頭(脈沖抗擾度測試)
GTEM小室(輻射發射及輻射抗擾度測試)
帶狀線(輻射發射及輻射抗擾度測試)
車規芯片電磁兼容測試,將從芯片角度,對其電磁兼容進行測試評價,進而從源頭提高部件或整車的電磁兼容性能。該測試不僅可以規范芯片的電磁兼容測試方法,為芯片企業提供必要的測試規范,還可以指導用戶選用合格的芯片產品。
未來,新能源檢驗中心電磁兼容部將持續深挖芯片電磁兼容測試方式方法,繼續完善芯片電磁兼容測試能力,支撐我國車規芯片標準化工作的同時,為主機廠、零部件企業及芯片廠商提供更好的服務。
歡迎垂詢,合作共研,共同推動我國車規芯片快速、高質量發展。

項目聯系人
張潔 18522075247
zhangjie2020@catarc.ac.cn
張玉潔 18602686004
zhangyujie@catarc.ac.cn
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